傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR）是一种用于分析材料结构和组成的重要工具。 该技术通过测量样品对吸收特定波长的辐射所产生的信号来确定其结构和成分，这些波长通常在范围内从4000 cm^-1到400 cm^-1。

本篇文章将为您提供傅立叶变换红外光谱仪的基础知识以及如何进行几项实际应用。

FT-IR基础知识

FT-IR是通过多晶干涉型法测量红外区间中物质与电磁波相互作用时所发生的吸、散、透现象而建立起来的。 在样品被利用强制振动或旋转，并且暴露于广谱源下时，会有某些特征性频率因缝隙中反射槽内部产生了同步增加和减小之后而表现出明显差异；经过侦控器读数并得到某一个时间域下所有点位上稳态IR干涉条纹后，再利用快速傅里叶变换等算法转化为波数和强度信息。

FT-IR主要由四个部分组成：

1.光源：提供宽带的辐射源

2.样品比色器：将待检测物质与参照物混合并压片制成观察所需样品

3.探测器：接收信号，并将其转化为可读取的数字信号。 常使用的有氮化硼、半导体和DTGS探测器

4.干涉仪系统：包含反射槽、移动反射镜以及一系列准直透过平面多片芯片（采用ZnSe晶体或KRS5材料）的衍射式互补金属光栅，实现对传入太赫兹电磁辐射发生吸散透综合影响下所产生不同频段之间形成差异量级廓线进行扫描记录。

FT-IR操作方法

在操作前，请确认以下事项已完成：

1) 确保设备已预heating至稳定状态；

2) 准确安装所有配件并确定机架完整性；

3) 检查样品比色器是否干净、透明,检查反射槽是否处于清洁状态；

4) 检查仪器与计算机的连接，安装软件并打开系统。

1. 设置不同解析度或带通滤波范围。这将影响测量信号在频谱中表现出来的精密度，对于高分子材料等需要捕获更细化乃至微观特征值变异情况的要求，则建议选择较小的数字化步长和均匀线性增益规则编制。

2. 以参照物为基础进行校准。使用具有已知光谱信息（如气态峰）且跟实际待测试物质相近似类别组成结构、吸收强度等参数作为参考标对象，并利用某些程序生成一个区间处理偏差曲线即可完成自动调整过程。

3. 对一系列标准另外还应该录入预设定范围内每个采集点位相关阈值上下限范畴窗口非常重要。其可以有效地对预测模型训练期间及后期误率控制起到稳定缩小效果。

4. 定义数据采集时间以及读数时间、扫描次数等参数。在多循环操作下，光谱图像上的信号响应可被平均以降低周围干扰效果，也可以根据观察结果进行适当调整。

5. 进行实时读取或导出数据。一般情况下，所获得的测试样本信号会存储并显示为格式化波形数据或CSV文档类型文件以便于后期分析和处理。

通过以上步骤您就能够熟练掌握FT-IR 红外光谱仪的使用方法啦！

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